Der Unterschied zwischen Rasterkraftmikroskop und optischem Mikroskop und Elektronenmikroskop
Der Hauptunterschied zwischen AFM und konkurrierenden Technologien wie optischer Mikroskopie und Elektronenmikroskopie besteht darin, dass AFM keine Linsen oder Lichtstrahlen verwendet. Somit ist die räumliche Auflösung aufgrund von Beugung und Aberrationen nicht eingeschränkt und es ist keine Vorbereitung des Raums für die Ausrichtung des Strahls (durch Erzeugung eines Vakuums) und die Färbung der Probe erforderlich.
Es gibt verschiedene Arten von Rastermikroskopen, darunter Rastersondenmikroskopie (einschließlich AFM), Rastertunnelmikroskopie (STM) und optische Rastermikroskopie im Nahfeld (SNOM/NSOM), STED-Mikroskopie (STED) sowie Rasterelektronenmikroskopie und elektrochemische Atommikroskopie Kraftmikroskopie EC-AFM). Obwohl SNOM und STED Proben mit sichtbarem, infrarotem und sogar Terahertz-Licht beleuchten, ist ihre Auflösung nicht durch die Beugungsgrenze begrenzt.
