STED- und Immersionsmikroskope mit tiefem Fokus
Der tiefe Fokus von Objektiven mit hoher NA führt zu einer kleineren PSF (Point Spread Function), was für hochauflösende Mikroskopiesysteme von entscheidender Bedeutung ist. Bei vielen anderen Mikroskopsystemen, beispielsweise Immersionsmikroskopen, wird ein Deckglas verwendet, um die Immersionsflüssigkeit von der Probe zu trennen. Dies kann die PSF in der Brennebene verzerren. Wir zeigen, dass die asymmetrische PSF hinter dem Deckglas weiter verlängert wird. Darüber hinaus verbraucht die STED-Mikroskopie (Stimulated Emission Depletion), die mit Auflösungen von mehreren zehn Nanometern weit verbreitet ist, ein toroidales PSF. Dem von P.Török und PRT Monro vorgeschlagenen Ansatz folgend, modellieren wir die Tiefenfokussierung eines Gauss-Raggler-Strahls. Demonstriert, wie eine kreisförmige PSF erstellt wird.
Tiefe Fokussierung mit High NA Immersionsmikroskopie
In VirtualLab Fusion kann der Einfluss der Deckglasschnittstelle auf PSF direkt analysiert werden. Die fokale Verzerrung hinter dem Deckglas wird vollständig vektoriell demonstriert und analysiert.
Fokussierung von Gauß-Laguerre-Strahlen im STED-Mikroskop
Es wurde gezeigt, dass die Fokussierung von Gauß-Laguerre-Strahlen höherer Ordnung eine ringförmige PSF erzeugt. Die Größe der ringförmigen PSF hängt unter anderem von der jeweiligen Strahlordnung ab.
