Sollte man sich für ein aufrechtes Mikroskop oder ein inverses Mikroskop entscheiden?
Bevor Sie diese Frage beantworten, sollten Sie sich darüber im Klaren sein, was der Unterschied zwischen einem aufrechten Mikroskop und einem inversen Mikroskop ist:
Das metallografische Mikroskop, auch Materialmikroskop genannt, wird hauptsächlich zur Beobachtung der Struktur von Metallstrukturen verwendet. Es kann in ein aufrechtes metallografisches Mikroskop und ein inverses metallografisches Mikroskop unterteilt werden
Das aufrechte metallografische Mikroskop erzeugt während der Beobachtung ein positives Bild, was dem Benutzer die Beobachtung und Identifizierung sehr erleichtert. Neben der Analyse und Identifizierung von Metallproben mit einer Höhe von 20 bis 30 mm wird es aufgrund seiner Übereinstimmung mit den täglichen Gewohnheiten des Menschen häufiger für transparente, halbtransparente oder undurchsichtige Substanzen verwendet. Durch die Beobachtung von Zielen, die größer als 3 Mikrometer, aber kleiner als 20 Mikrometer sind, wie z. B. Metallkeramik, elektronische Chips, gedruckte Schaltkreise, LCD-Substrate, Filme, Fasern, körnige Objekte, Beschichtungen und andere Materialien, können gute Abbildungseffekte für deren Oberflächenstrukturen und Spuren erzielt werden. Darüber hinaus kann das externe Kamerasystem einfach an den Videobildschirm und den Computer angeschlossen werden, um Bilder in Echtzeit und dynamisch zu beobachten, zu speichern, zu bearbeiten, zu drucken und mit verschiedener Software zu kombinieren, um den Anforderungen professionellerer Metallografie-, Mess- und interaktiver Lehrbereiche gerecht zu werden. Das invertierte metallographische Mikroskop verwendet optische Ebenenabbildung, um die Mikrostruktur verschiedener Metalle und Legierungen zu identifizieren und zu analysieren. Es ist ein wichtiges Werkzeug für das Studium der Metallographie in der Metallphysik und kann in Fabriken oder Labors häufig zur Gussqualität, zur Rohmaterialprüfung oder zur Erforschung und Analyse der metallografischen Materialstruktur nach der Prozessbehandlung eingesetzt werden. Es liefert intuitive Analyseergebnisse und ist ein Schlüsselgerät für die Qualitätsidentifizierung und -analyse von Guss-, Schmelz- und Wärmebehandlungsprozessen in der Bergbau-, Metallurgie-, Fertigungs- und mechanischen Verarbeitungsindustrie. Aufgrund des Bedarfs an planarer Mikroskopie mit hoher Vergrößerung zur Unterstützung der Chipproduktion in der Mikroelektronikindustrie wurden in den letzten Jahren metallografische Mikroskope eingeführt und kontinuierlich verbessert, um den besonderen Anforderungen der Industrie gerecht zu werden. Beim inversen metallographischen Mikroskop fällt die Beobachtungsoberfläche der Probe mit der Oberfläche des Arbeitstisches zusammen, das Beobachtungsobjektiv befindet sich unterhalb des Arbeitstisches und wird nach oben beobachtet. Diese Beobachtungsform ist nicht durch die Höhe der Probe, die einfache Bedienung, die kompakte Instrumentenstruktur, das schöne und großzügige Erscheinungsbild begrenzt. Die Basis des umgekehrten metallografischen Mikroskops verfügt über eine große Auflagefläche und einen niedrigen Schwerpunkt, was sicher, stabil und zuverlässig ist. Das Okular und die Auflagefläche sind um 45 Grad geneigt, was die Beobachtung bequem macht.
Zusätzlich zur Standardkonfigurationsauswahl hat das inverse metallografische Mikroskop durch technologische Fortschritte seine direkte Bildausgabefunktion verbessert, sodass es einfach an einen Computer angeschlossen und Software für eine intelligente Verarbeitung entsprechend den Prozessanforderungen angewendet werden kann. Einfach ausgedrückt platzieren Sie die aufrechte Probe unten und die umgekehrte Probe oben. Die aufrechte Objektivlinse zeigt nach unten, die umgekehrte Objektivlinse nach oben. Das heißt, mit der umgekehrten Linse unter dem Tisch legen Sie den Testblock mit der Vorderseite nach unten auf den Tisch, mit der Linse nach unten und dem Testblock auf dem Kopf, und beobachten Sie die Testoberfläche von unten nach oben.
Das Objektiv wird aufrecht auf den Tisch gestellt, wobei der Testblock nach oben auf dem Tisch liegt. Zu diesem Zeitpunkt befindet sich die Linse oben und der Testblock wird aufrecht platziert. Das Objektiv beobachtet die Prüffläche von oben nach unten.
