Bedienung und Fehlerbehebung von Messprojektoren und Messmikroskopen
1. Messen Sie die Vergrößerung des Projektormikroskops und beobachten Sie, wie es sich an unterschiedliche Anforderungen anpasst
Das Messprojektormikroskop wird zur dreidimensionalen Inspektion und Beobachtung elektronischer Komponenten, integrierter Leiterplatten, rotierender Schneidwerkzeuge, Magnete usw. verwendet. Wie kann man sich an diese unterschiedlichen Anforderungen anpassen, wenn man bedenkt, dass diese verschiedenen Objekte in unterschiedlichen Vergrößerungen beobachtet werden müssen? Es kann durch mehrere Aspekte gelöst werden. A. Dies kann durch optische Leistung erreicht werden. B. Es kann für die Videobeobachtung ausgewählt werden. C. Dies kann durch mechanische Leistung erreicht werden. D. Es kann durch eine Lichtquelle beleuchtet werden
Optische Leistung: Basierend auf den Beobachtungsanforderungen des Messobjekts werden unterschiedliche Okulare/Objektive ausgewählt, um Probleme wie hohe Vergrößerung und großes Sichtfeld zu lösen. Wenn nur eine hohe Vergrößerung erforderlich ist, kann dies durch Austausch des Okulars und der Objektivlinse mit hoher Vergrößerung erreicht werden. Wenn ein großes Sichtfeld erforderlich ist, kann dies durch Austausch der Objektivlinse, Verkleinerung des Okulars oder Austausch des Okulars mit großem Sichtfeld erreicht werden.
Videobeobachtung: Wenn die optische Vergrößerung nicht ausreicht, kann als Ausgleich eine elektronische Vergrößerung eingesetzt werden. Wenn wir gleichzeitig beobachten und speichern und bewahren möchten, können wir uns für Videos entscheiden. Es gibt verschiedene Videoformate: A. Es kann direkt über einen Monitor abgerufen werden. B. Es kann an einen Computer angeschlossen werden (über eine digitale CCD- oder analoge CCD-Bilderfassungskarte). C. Es kann an eine Digitalkamera angeschlossen werden (verschiedene Digitalkameras müssen unterschiedliche Schnittstellen und Kompatibilität mit dem Mikroskop berücksichtigen).
Mechanische Leistung: Wenn es um Schweißen, Montage, Inspektion großer integrierter Leiterplatten und Anforderungen an den Arbeitsabstand geht, können wir diese durch mechanische Leistung wie Universalhalterungen, Kipphebelhalterungen, große mobile Plattformen usw. lösen. Mit ihren Leistungsmerkmalen können wir unsere Erkennungsarbeit direkt abschließen, indem wir bei der Erkennung großer Objekte Halterungen und Plattformen verwenden. Es ist nicht erforderlich, unser getestetes Objekt zu bewegen. Beispielsweise war es für Unternehmen A schwierig, die Platine zu bewegen, da sie sehr groß war und eine leichte Neigung beobachtet werden musste. Daher konnten die Inspektionsarbeiten nur durch mechanische Bewegung durchgeführt werden, und die Verwendung von Universalhalterungen konnte diese Nutzungsanforderungen gleichzeitig erfüllen.
Beleuchtung der Lichtquelle: Die Beleuchtung der Lichtquelle spielt eine entscheidende Rolle dafür, ob das Messobjekt klar erkennbar ist. Bei der Auswahl der Beleuchtung ist es notwendig, das entsprechende Beleuchtungswerkzeug und die entsprechende Beleuchtungsmethode auf der Grundlage der Eigenschaften des Messobjekts selbst auszuwählen (unter Berücksichtigung seiner Lichtanforderungen, z. B. stark/schwach/reflektierend usw.). Wenn die Transmission des Projektormikroskops Ihren Beleuchtungsbedarf bei Schrägbeleuchtung nicht decken kann, haben wir auch LED-Kaltlichtquellenleuchten, Kreisleuchten, Einzel-/Doppelfaser-Kaltlichtquellenleuchten usw. für Sie vorbereitet.
2. Reflektieren Sie die Fähigkeit des Mikroskops, das zu messende Objekt durch Beobachtung schnell zu lokalisieren und zu bewegen
Legen Sie das Objekt unter das Mikroskop und stellen Sie zunächst die Vergrößerung auf das Minimum ein. Wenn das vergrößerte Bild klar ist, platzieren Sie die gemessene Komponente in der Mitte des Sichtfelds. Verstellen Sie dann schrittweise das Zoom-Handrad auf beiden Seiten des Mikroskops, bis das stark vergrößerte Bild völlig klar ist. Wenn das von Ihnen beobachtete Bauteil eine Bewegungsbeobachtung erfordert, kann eine mobile Werkbank ausgestattet werden, die sich vertikal und horizontal mit einer Genauigkeit von 0,1 mm für die Bewegungsstrecke bewegen kann.
