Wie gut kennen Sie sich mit der Mikroskopieterminologie für metallografische Analysengeräte aus?
Numerische Apertur
Die numerische Apertur ist der wichtigste technische Parameter der Objektivlinse und des Kondensators eines metallografischen Mikroskops. Die numerische Apertur, abgekürzt NA, ist ein wichtiges Symbol zur Beurteilung der Leistung der beiden (insbesondere der Objektivlinse). Die numerischen Werte sind auf den Gehäusen der Objektivlinse bzw. des Kondensators angegeben.
Die numerische Apertur (NA) ist das Produkt aus dem Brechungsindex (n) des Mediums zwischen der Objektivfrontlinse und dem zu untersuchenden Objekt und dem Sinus des halben Öffnungswinkels (u). Die Formel lautet: NA=nsinu/2
Auflösung
Die Auflösung eines metallografischen Mikroskops bezieht sich auf den Mindestabstand zwischen zwei Objektpunkten, die durch das Mikroskop klar unterschieden werden können, auch als Unterscheidungsrate bekannt. Die Berechnungsformel lautet σ=λ/NA
In der Formel ist σ die minimale Auflösungsentfernung; λ ist die Wellenlänge des Lichts; NA ist die numerische Apertur der Objektivlinse. Es ist ersichtlich, dass die Auflösung der Objektivlinse von zwei Faktoren bestimmt wird: dem NA-Wert der Objektivlinse und der Wellenlänge der Beleuchtungsquelle. Je größer der NA-Wert, desto kürzer die Wellenlänge des Beleuchtungslichts, desto kleiner der σ-Wert und desto höher die Auflösung.
Vergrößerung und effektive Vergrößerung
Aufgrund der beiden Vergrößerungen des Objektivs und des Okulars sollte die Gesamtvergrößerung Γ des Mikroskops das Produkt aus der Objektivvergrößerung und der Okularvergrößerung Γ1 sein: Γ= Γ1
Im Vergleich zu einer Lupe kann ein Mikroskop offensichtlich eine viel höhere Vergrößerung erzielen und die Vergrößerung des Mikroskops lässt sich leicht ändern, indem man Objektivlinsen und Okulare mit unterschiedlicher Vergrößerung auswechselt.
Tiefenschärfe
Brennweite ist die Abkürzung für Tiefenschärfe. Das heißt, wenn bei Verwendung eines Mikroskops der Fokus auf ein Objekt gerichtet ist, sind nicht nur alle Punkte auf der Ebene an diesem Punkt klar zu sehen, sondern auch alle Punkte innerhalb einer bestimmten Dicke über und unter der Ebene sind klar zu sehen. Es muss klar sein, dass die Dicke dieses klaren Teils die Tiefenschärfe ist. Dies ist insbesondere bei der Videomikroskopie wichtig.
Sichtfelddurchmesser
Beim Mikroskopieren bezeichnet man den hellen, kreisförmigen Bereich als Sichtfeld, dessen Größe durch die Feldblende im Okular bestimmt wird.
Der Durchmesser des Sichtfelds, auch Sichtfeldbreite genannt, bezieht sich auf den tatsächlichen Bereich des untersuchten Objekts, der in das kreisförmige Sichtfeld unter dem Mikroskop passt. Je größer der Durchmesser des Sichtfelds, desto einfacher ist die Beobachtung.
schlechte Abdeckung
Zum optischen System eines Mikroskops gehört auch das Deckglas. Aufgrund der nicht standardmäßigen Dicke des Deckglases ändert sich der optische Weg des vom Deckglas in die Luft gebrochenen Lichts, was zu einer Phasendifferenz führt, die den Deckungsunterschied darstellt. Das Auftreten einer schlechten Deckung beeinträchtigt die Klangqualität metallografischer Mikroskope.
Arbeitsentfernung
Der Arbeitsabstand wird auch Objektabstand genannt und bezeichnet den Abstand zwischen der Oberfläche der Frontlinse des Objektivs und dem zu untersuchenden Objekt. Bei der mikroskopischen Untersuchung sollte das zu untersuchende Objekt zwischen dem Ein- und Zweifachen der Brennweite des Objektivs liegen. Daher sind es und die Brennweite zwei verschiedene Konzepte. Was wir normalerweise Fokussierung nennen, ist eigentlich die Einstellung des Arbeitsabstands eines metallografischen Mikroskops.
