Anwendungen metallografischer Mikroskope in verschiedenen Industriesektoren
Metallographische Mikroskope wurden ursprünglich aus der Metallographie abgeleitet. Ihr Hauptzweck besteht darin, metallografische Strukturen zu beobachten, was sie zu Spezialinstrumenten macht, die ausschließlich für die Untersuchung der metallografischen Strukturen undurchsichtiger Objekte wie Metalle und Mineralien konzipiert sind. Diese undurchsichtigen Objekte können mit gewöhnlichen Durchlichtmikroskopen nicht beobachtet werden; Daher besteht der Hauptunterschied zwischen metallografischen Mikroskopen und gewöhnlichen Mikroskopen darin, dass erstere reflektiertes Licht zur Beleuchtung verwenden, während letztere auf durchgelassenem Licht basieren.
Metallografische Mikroskope zeichnen sich durch hervorragende Stabilität, klare Abbildung, hohe Auflösung und ein großes, flaches Sichtfeld aus. Zusätzlich zur mikroskopischen Beobachtung durch das Okular können sie auch dynamische Echtzeitbilder-auf Computerbildschirmen (oder Digitalkamerabildschirmen) anzeigen. Die erforderlichen Bilder können bearbeitet, gespeichert und gedruckt werden, wobei die Hauptanwendung in Bereichen wie Hardware, metallografische Schnitte, IC-Komponenten und LCD/LED-Herstellung liegt.
Metallografische Mikroskope sind mit fünf Arten von Objektiven ausgestattet: EPI-Hellfeld-Fluoreszenz, BD-Hellfeld/Dunkelfeld, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance) und solche mit Korrekturring. In der Hardware-Industrie können für Hardwareteile mit starker Reflexion BD-Hellfeld-/Dunkelfeld-Objektive zur Beobachtung ausgewählt werden. Beispielsweise können in der LCD-Industrie bei der Beobachtung und Messung leitfähiger Partikel metallografische Mikroskope mit DIC (Differential Interference Contrast) ausgestattet werden, um eine dreidimensionalere Abbildung zu erzielen. DIC nutzt Polarisationstechnologie-gepaarte Polarisationsfilter bilden ein polarisiertes mikroskopisches Beobachtungssystem. Basierend auf den doppelbrechenden Eigenschaften von Objekten ändert es den optischen Weg richtungsabhängig. Allerdings ist die Polarisation nur in Verbindung mit DIC sinnvoll; es dient allein keinem praktischen Zweck. Wenn metallografische Mikroskope zum Messen und Analysieren von Objekten in Mikrogröße wie IC-Komponenten und metallografischen Schnitten verwendet werden, kann die intelligente Software Iview-DIMS eingesetzt werden.
Diese Software bietet eine hohe Präzision und reduziert effektiv menschliche Messfehler. Es ist leicht zu erlernen und zu verwenden und ermöglicht die genaue Messung und Analyse relevanter Abmessungen wie Punkte, Linien, Bögen, Radien, Durchmesser und Winkel. Es unterstützt auch die einfache Erfassung von Messbildern und die individuelle Anpassung verschiedener Testberichte.
