Welches Mikroskop wird für die Graphenforschung verwendet?
Natürlich handelt es sich um ein Rasterkraftmikroskop (AFM). Auf der Höhenkarte ist zu erkennen, dass eine einzelne Graphenschicht weniger als 1 nm groß ist. Es sollte gesagt werden, dass AFM das bequemste Mittel zur Charakterisierung von Graphenmaterialien ist. Natürlich sollte bei der AFM-Charakterisierung darauf geachtet werden, Staub, Salze und Graphenmoleküle zu unterscheiden.
Natürlich können auch optische Mikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Charakterisierung von Graphen eingesetzt werden. Es gibt auch ein hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop HRTEM, das das wabenförmige Atombild von Graphen sehen und die Defekte von Graphenoxid nach der Reduktion erkennen kann.
Heutzutage wird die Qualität der von vielen Wissenschaftlern zusammengestellten Bücher immer schlechter, aber „Graphene-Struktur, Vorbereitungsmethode und Leistungscharakterisierung“, herausgegeben von Wissenschaftlern der Tsinghua-Universität, ist immer noch angemessen. Es gibt einige Fehler im Buch, die die Referenz jedoch nicht beeinträchtigen. Im Vergleich zu einigen Büchern ist es viel besser, eine große Anzahl von Dokumenten ohne logische Regeln zusammenzustellen, um zu zeigen, wie viele Dokumente Sie gelesen haben.
