Was ist der Unterschied zwischen einem metallographischen Mikroskop und einem Rasterelektronenmikroskop?
Ein metallografisches Mikroskop ist ein Mikroskop zur Beobachtung der Oberfläche einer Metallprobe (metallografische Struktur) bei Auflichtbeleuchtung. Es kombiniert optische Mikroskopietechnologie, photoelektrische Umwandlungstechnologie und Computerbildverarbeitungstechnologie. High-Tech-Produkte können das metallografische Bild problemlos auf dem Computer beobachten, sodass das metallografische Bild analysiert, bewertet usw. und das Ausgabebild erstellt werden kann. Ein metallographisches Mikroskop ist eine Art optisches Mikroskop. Im Vergleich zum Elektronenmikroskop ist die Auflösung kleiner, die Mikrometerauflösung kleiner und die Vergrößerung kleiner, aber die Bedienung ist einfach. Großes Sichtfeld, relativ niedriger Preis.
Metallographisches Mikroskop Ein neuartiges elektrooptisches Instrument, das in der Rasterelektronenmikroskopie verwendet wird. Es zeichnet sich durch einfache Probenvorbereitung, einstellbare Vergrößerungsfeldbreite, hohe Bildauflösung, Schärfentiefe und mehr aus. Rasterelektronenmikroskopie ist seit Jahrzehnten in den Bereichen Biologie, Medizin und Metallurgie weit verbreitet und hat die Entwicklung verschiedener verwandter Disziplinen vorangetrieben. Merkmale des Rasterelektronenmikroskops: Elektronenmikroskop, hohe Bildauflösung, nanoskalige Auflösung, einstellbare Vergrößerung und groß, ein weiteres wichtiges Merkmal ist die große Schärfentiefe und reichhaltige dreidimensionale Bilder.
Es gibt große Unterschiede zwischen metallografischen Mikroskopen und Rasterelektronenmikroskopen, vor allem in folgenden Aspekten:
1. Verschiedene Lichtquellen: Metallografische Mikroskope verwenden sichtbares Licht als Lichtquelle und Rasterelektronenmikroskope verwenden Elektronenstrahlen als Lichtquelle für die Bildgebung.
2. Das Prinzip ist anders: Das metallografische Mikroskop verwendet zum Scannen das Prinzip der geometrischen optischen Abbildung, und das Rasterelektronenmikroskop bombardiert die Oberfläche der Probe mit hochenergetischen Elektronenstrahlen, um verschiedene physikalische Signale auf der Oberfläche anzuregen. Probieren Sie es aus und verwenden Sie dann verschiedene Signaldetektoren, um das physikalische Signal zu erfassen und in ein Bild umzuwandeln. Information.
3. Auflösung: Aufgrund der Interferenz und Beugung des Lichts kann das metallographische Mikroskop nur auf 0.2-0,5 um begrenzt werden. Die Rasterelektronenmikroskopie verwendet einen Elektronenstrahl als Lichtquelle und ihre Auflösung kann 1-3nm erreichen. Daher gehört die Beobachtung der Mikrostruktur mit einem metallografischen Mikroskop zur Mikrometeranalyse und die Beobachtung mit einem Rasterelektronenmikroskop zur Nanoanalyse.
4. Schärfentiefe: Die Schärfentiefe eines allgemeinen metallographischen Mikroskops liegt zwischen 2-3um, daher muss die Oberflächenglätte der Probe extrem hoch sein, sodass der Vorbereitungsprozess relativ kompliziert ist. Die Schärfentiefe des SEM kann mehrere betragen.
