Durchlichtmikroskop als Begleitgerät für metallografische Analysen
Metallografische Analyseinstrumente, die Mikroskopbeleuchtung unterstützen, werden im Allgemeinen in zwei Kategorien unterteilt: „Durchlichtbeleuchtung“ und „Auflichtbeleuchtung“. Erstere gilt für transparente oder halbtransparente Untersuchungsobjekte, die überwiegende Mehrheit der biologischen Mikroskope gehört zu dieser Beleuchtungsart; letztere gilt für nicht transparente Untersuchungsobjekte, die Lichtquelle kommt von oben, auch als „reflektierende Beleuchtung“ bekannt. Wird hauptsächlich bei metallurgischer Mikroskopie oder Fluoreszenzmikroskopie verwendet.
1. Durchlichtbeleuchtung
Biologische Mikroskope werden zur Beobachtung transparenter Proben verwendet, die zur Beleuchtung Durchlicht benötigen. Es gibt zwei Arten der Beleuchtung
(1) Kritische Beleuchtung (Kritische Beleuchtung) Die Lichtquelle durchläuft den Kondensorspiegel und wird auf der Objektebene abgebildet. Wenn der Verlust an Lichtenergie außer Acht gelassen wird, ist die Helligkeit des Bildes der Lichtquelle dieselbe wie die der Lichtquelle selbst. Daher ist diese Methode gleichbedeutend mit der Platzierung der Lichtquelle auf der Objektebene. Wenn bei kritischer Beleuchtung die Oberflächenhelligkeit der Lichtquelle nicht gleichmäßig ist oder deutlich kleine Strukturen wie Filamente usw. zu sehen sind, wird dies offensichtlich den Mikroskopbeobachtungseffekt erheblich beeinträchtigen, was der Nachteil der kritischen Beleuchtung ist. Abhilfe schafft die Platzierung opaleszierender und wärmeabsorbierender Filter vor der Lichtquelle, damit die Beleuchtung gleichmäßiger wird und eine längere Bestrahlung der Lichtquelle und eine Beschädigung des untersuchten Objekts vermieden werden. Bei der Beleuchtung mit Durchlicht bildet die Objektivlinse den Strahl des Öffnungswinkels ab. Der Öffnungswinkel des Strahls wird durch den Strahlerspiegel wie ein Quadrat bestimmt. Um die numerische Apertur der Objektivlinse voll auszunutzen, sollte der Strahlerspiegel dieselbe numerische Apertur wie die Objektivlinse oder eine etwas größere numerische Apertur aufweisen.
(2) Cora-Beleuchtung Der Nachteil der ungleichmäßigen Ausleuchtung der Objektoberfläche bei kritischer Beleuchtung kann bei der Cora-Beleuchtung eliminiert werden. Zwischen der Lichtquelle 1 und der Fokussierlinse 5 ist zusätzlich eine Hilfsfokussierlinse 2 angebracht. Sichtbar wird dies dadurch, dass die Lichtquelle nicht direkt, sondern durch die Hilfsfokussierlinse 2 (auch Cora-Spiegel genannt) gleichmäßig ausgeleuchtet und in die Probe 6 abgebildet wird, sodass das Sichtfeld der Objektivlinse (der Probe) gleichmäßig ausgeleuchtet wird.
2. Fallende Beleuchtung
Bei der Betrachtung eines undurchsichtigen Objekts, wie beispielsweise einer Metallschleifscheibe, durch ein metallurgisches Mikroskop wird die Beleuchtung häufig von der Seite oder von oben angewendet. Zu diesem Zeitpunkt ist die Oberfläche des zu beobachtenden Objekts auf der Glasoberfläche nicht bedeckt; das Bild der Probe wird durch das in die Objektivlinse eintretende reflektierte oder gestreute Licht erzeugt. Wie in Abbildung 7 dargestellt.
3. Beleuchtungsmethode zur Beobachtung von Partikeln mit dunklem Sichtfeld
Mit der Dunkelfeldmethode können supermikroskopische Plasmen beobachtet werden. Die sogenannten supermikroskopischen Plasmen sind winzige Plasmen, die kleiner sind als die Auflösungsgrenze des Mikroskops. Das Prinzip der Dunkelfeldbeleuchtung besteht darin, dass die Hauptbeleuchtungsstrahlen nicht in die Objektivlinse gelangen, sondern nur die von den Partikeln gestreuten Strahlen in das Bild der Objektivlinse gelangen können. Dadurch wird das Bild heller Partikel auf einem dunklen Hintergrund wiedergegeben und das Sichtfeld ist dunkel, aber der Kontrast ist gut, was eine verbesserte Auflösung ermöglicht.
Die Dunkelfeldbeleuchtung wird in unidirektionale und bidirektionale Beleuchtung unterteilt.
(1) Unidirektionale Dunkelfeldbeleuchtung. Ein Diagramm der unidirektionalen Dunkelfeldbeleuchtung. Wie aus der Abbildung ersichtlich, gelangt das Licht von der Beleuchtungseinrichtung 2 nach der Reflexion durch das undurchsichtige Probenstück 1 nicht in die Objektivlinse 3, sondern hauptsächlich durch die Partikel oder die Ungleichmäßigkeit des feinen Teils des in die Objektivlinse gestreuten Lichts. Offensichtlich ist diese unidirektionale Dunkelfeldbeleuchtung, das Vorhandensein und die Bewegung von Partikeln, für die Beobachtung wirksam, jedoch nicht für die Wiedergabe von Objektdetails, d. h. es tritt ein „Verzerrungsphänomen“ auf.
(2) Zweiseitige Dunkelfeldbeleuchtung Durch die Zweiseitige Dunkelfeldbeleuchtung können die Nachteile der einseitigen Verzerrung vermieden werden. Durch Platzieren einer Ringblende vor einem gewöhnlichen dreilinsigen Kondensor kann eine Zweiseitige Dunkelfeldbeleuchtung erreicht werden. Der letzte Teil des Kondensors und das Trägerglas sind in Flüssigkeit eingetaucht, und der Teil zwischen dem Deckglas und der Objektivlinse ist trocken. Metallografische Analyseinstrumente unterstützen daher die Durchlicht- und Fallbeleuchtung durch das Mikroskop. Der Ringstrahl der Kondensorlinse wird durch das Deckglas total reflektiert und kann nicht in die Objektivlinse eindringen. Dadurch entsteht ein Schaltkreis wie in der Abbildung dargestellt. In die Objektivlinse gelangt nur das von den Partikeln auf der Probe gestreute Licht, wodurch eine Zweiseitige Dunkelfeldbeleuchtung entsteht. Für weitere verwandte Instrumente wie Eisenanalysatoren, Kohlenstoff- und Siliziumanalysatoren usw. wenden Sie sich bitte an die technische Abteilung von Tong Pu.
