Lösen von EMI-Problemen im Zeit- und Frequenzbereich mit digitalen RTO-Oszilloskopen
Der Schlüssel zur EMI-Diagnose ist die FFT-Technik. Mit der FFT-Funktion herkömmlicher Oszilloskope ist es schwierig, Parameter im Frequenzbereich einzustellen, und die Spektrumanalyse dauert lange. Da die FFT-Schnittstelle der R&S RTO-Oszilloskope auf einem Spektrumanalysator basiert, können Benutzer Parameter wie Startfrequenz, Grenzfrequenz, Bandbreitenauflösung und Detektortyp direkt einstellen, genau wie bei der Verwendung eines Spektrumanalysators.
Die leistungsstarke FFT-Technologie in Kombination mit der großen Speichertiefe der RTO-Oszilloskope ermöglicht dem Benutzer, Zeit- und Frequenzbereichsparameter unabhängig voneinander einzustellen und flexibel Analysen sowohl im Zeit- als auch im Frequenzbereich durchzuführen. Mit diesen Funktionen kann der Benutzer Quellen von abgestrahlten Störungen schnellstmöglich finden.
R&S RTO-Oszilloskope verwenden die Overlap-FFT zur Frequenzbereichsanalyse. Die Overlap-FFT-Technik ermöglicht eine hohe Empfindlichkeit gegenüber Störstrahlung und ist in der Lage, gelegentliche Störfrequenzpunkte zu erfassen. Das Oszilloskop teilt das erfasste Zeitbereichssignal zunächst in mehrere Zeitsegmente auf und führt dann FFT-Berechnungen durch, um das Spektrum für jedes Zeitsegment zu erhalten, das episodische Störsignale mit niedriger Energie im Spektrum erfasst.
Anschließend werden die Signale mit unterschiedlicher Häufigkeit farblich markiert und die FFT-analysierten Spektren aller Zeitabschnitte zu einem Gesamtspektrum zusammengefügt.
Strahlung wird von episodischer Strahlung durch die Kennzeichnung mit unterschiedlichen Farben unterschieden. Die Spektralanalyse mithilfe der Farbcodierungstechnik liefert ein perfektes Bild der Art und Häufigkeit von EMI-Emissionen.
Mit der FFT-Technik mit Fenster kann der Benutzer ein Zeitfenster für das erfasste Signal anpassen, die FFT-Analyse nur für die Signale innerhalb des Zeitfensters durchführen und durch Verschieben des Fensters die Übereinstimmung zwischen jedem Segment des Zeitbereichssignals und dem Spektrum analysieren. Die Technik kann beispielsweise verwendet werden, um ein EMI-Problem aufgrund eines Transistor-Überschwingens in einem Schaltnetzteil zu analysieren. Nachdem der Benutzer den Problempunkt identifiziert hat, kann er schnell die Wirkung der Gleichrichtung überprüfen.
Das Vorlagentool ist auch bei der Analyse von Störstrahlungsproblemen sehr effektiv. Benutzer definieren Vorlagen im Frequenzbereich und legen sie entsprechend für die störenden Signale fest, sodass sie genau bestimmen können, welche Signale spektrale Verletzungen verursachen. Sogar für erfasste Signale kann der Benutzer die FFT-Parameter anpassen, wie etwa die Größe des Fensters und die Frequenzauflösung. Mit derartigen leistungsstarken Funktionen können Benutzer EMI-Emissionen, die schwer zu erfassen sind, sorgfältig analysieren.
Mit ihren umfangreichen Erfassungs- und Analysefunktionen setzen R&S RTO-Oszilloskope neue Maßstäbe für Oszilloskope. Gleichzeitig bieten sie mit einer Fülle an Zubehör, wie der R&S HZ-15 Nahfeldsonde, eine komplette EMI-Diagnoselösung.
