Lösen Sie EMI-Probleme im Zeit- und Frequenzbereich mit digitalen RTO-Oszilloskopen
RTO-Digitaloszilloskope können Entwicklungsingenieuren bei der Entwicklung von Elektronik dabei helfen, EMI-Probleme im Zeit- und Frequenzbereich zu analysieren und die Ursachen von EMI zu lokalisieren. Das RTO-Digitaloszilloskop hat ein extrem geringes Eingangsrauschen und seine Empfindlichkeit kann innerhalb des gesamten Bandbreitenbereichs von 0-4GHz 1 mV/Div erreichen. Die Echtzeit-FFT-Spektrumanalysefunktion von RTO kann mit Nahfeldsondenanalyse zur Diagnose von EMI-Problemen verwendet werden.
Abb.: R&S RTO Digitaloszilloskop – rauscharmes Frontend/leistungsfähige FFT als leistungsstarkes EMI-Diagnosetool
Der Schlüssel zur EMI-Diagnose ist die FFT-Technologie. Mit der FFT-Funktion herkömmlicher Oszilloskope ist es schwierig, Parameter im Frequenzbereich einzustellen, und die Spektrumanalyse dauert lange. Da die FFT-Bedienoberfläche des R&S RTO-Oszilloskops auf einem Spektrumanalysator basiert, können Benutzer Parameter wie Startfrequenz, Grenzfrequenz, Bandbreitenauflösung und Detektortyp direkt einstellen, genau wie bei der Verwendung eines Spektrumanalysators.
Die leistungsstarke FFT-Technologie in Kombination mit der großen Speichertiefe des RTO-Oszilloskops ermöglicht es dem Benutzer, Zeitbereichs- und Frequenzbereichsparameter unabhängig voneinander einzustellen und flexibel Analysen im Zeitbereich und Frequenzbereich durchzuführen. Mit diesen Funktionen können Benutzer Quellen abgestrahlter Störungen so schnell wie möglich erkennen.
Das R&S RTO-Oszilloskop verwendet Overlap FFT zur Frequenzbereichsanalyse. Die Overlap-FFT-Technologie kann eine hohe Empfindlichkeit gegenüber Störstrahlung erreichen und gelegentliche Störfrequenzpunkte erfassen. Das Oszilloskop unterteilt das erfasste Zeitbereichssignal zunächst in mehrere Zeitsegmente und führt dann FFT-Berechnungen durch, um das Spektrum jedes Zeitsegments zu erhalten, sodass gelegentliche Störsignale mit niedriger Energie im Spektrum erfasst werden können.
Anschließend werden Signale mit unterschiedlichen Frequenzen mit unterschiedlichen Farben markiert und das FFT-Analysespektrum aller Zeiträume zu einem Gesamtspektrum kombiniert.
Strahlung und einfallende Strahlung werden mit unterschiedlichen Farben markiert. Eine Spektralanalyse mit unterschiedlichen Farbmarkierungstechniken kann die Art und Frequenz der EMI-Strahlung perfekt darstellen.
Mithilfe der Windowed-FFT-Technologie können Benutzer ein Zeitfenster für das erfasste Signal anpassen, eine FFT-Analyse nur für das Signal innerhalb des Zeitfensters durchführen und durch Verschieben dieses Fensters die entsprechende Beziehung zwischen jedem Zeitbereichssignal und dem Spektrum analysieren. Diese Technik kann beispielsweise verwendet werden, um EMI-Probleme zu analysieren, die durch Transistor-Überschwingen in Schaltnetzteilen verursacht werden. Nach Bestätigung des Problempunkts kann der Benutzer die Wirkung der Gleichrichtung schnell überprüfen.
Vorlagentools sind auch bei der Analyse von Streustrahlungsproblemen sehr effektiv. Benutzer definieren Vorlagen im Frequenzbereich und nehmen entsprechende Einstellungen für die verletzenden Signale vor, sodass sie genau bestimmen können, welche Signale Spektrumverletzungen verursachen. Sogar für erfasste Signale können Benutzer FFT-Parameter wie Fenstergröße und Frequenzauflösung anpassen. Mit derartigen leistungsstarken Funktionen können Benutzer eine sorgfältige Analyse von EMI-Strahlung durchführen, die schwer zu erfassen ist.
Das R&S RTO Oszilloskop setzt mit seinen umfangreichen Erfassungs- und Analysefunktionen neue Maßstäbe für Oszilloskope. Gleichzeitig bietet es in Kombination mit einer großen Auswahl an Zubehör, wie der R&S HZ-15 Nahfeldsonde, ein komplettes Set an EMI-Diagnoselösungen.
