Rasterelektronenmikroskopie und metallografische Mikroskopie „gehören zusammen, aber auf unterschiedliche Weise“
Rasterelektronenmikroskope und metallografische Mikroskope sind beides optische Instrumente. Viele Leute verwenden gerne ein metallografisches Mikroskop als Rasterelektronenmikroskop, aber es gibt große Unterschiede zwischen ihnen. Eine falsche Verwendung belastet das Gerät nur stärker und beschleunigt den Verschleiß des metallografischen Mikroskops.
1. Zunächst einmal sind die Prinzipien unterschiedlich: Das metallografische Mikroskop verwendet das Prinzip der geometrischen optischen Abbildung, um Bilder zu erzeugen, während das Rasterelektronenmikroskop verschiedene physikalische Signale verwendet, die durch fein fokussierte Elektronenstrahlen angeregt werden, wenn die Probenoberfläche abgetastet wird, um die Bilder zu modulieren. Die Oberfläche der Probe wird mit hochenergetischen Elektronenstrahlen bombardiert, und auf der Oberfläche der Probe werden verschiedene physikalische Signale angeregt. Verschiedene Signaldetektoren werden verwendet, um die physikalischen Signale zu empfangen und sie dann in Bildinformationen umzuwandeln.
2. Zweitens sind die Lichtquellen unterschiedlich: Das metallografische Mikroskop verwendet sichtbares Licht als Lichtquelle zur Bildgebung, während das Rasterelektronenmikroskop Elektronenstrahlen als Lichtquelle zur Bildgebung verwendet.
3. Unterschiedliche Auflösungen: Metallurgische Mikroskope unterliegen Interferenzen und Beugungen von sichtbarem Licht und die Auflösung kann nur auf 0.2-0.5um begrenzt werden. Da das Rasterelektronenmikroskop Elektronenstrahlen als Lichtquelle verwendet, kann seine Auflösung zwischen 1-3nm liegen. Daher ist die Gewebebeobachtung unter dem metallografischen Mikroskop eine Analyse auf Mikronebene, während die Gewebebeobachtung unter dem Rasterelektronenmikroskop eine Analyse auf Nanoebene ist. Die Probeninformationen, die das Rasterelektronenmikroskop erhält, sind umfangreicher. .
4. Unterschiedliche Tiefenschärfe: Im Allgemeinen liegt die Tiefenschärfe eines metallografischen Mikroskops zwischen 2-3um, sodass es extrem hohe Anforderungen an die Oberflächenglätte der Probe stellt und der Probenvorbereitungsprozess relativ kompliziert ist. Die Tiefenschärfe eines Rasterelektronenmikroskops ist hundertmal so groß wie die eines metallografischen Mikroskops. Aufgrund der Einschränkungen seines Abbildungsprinzips muss die Probenoberfläche jedoch leitfähig sein, daher muss die Probenoberfläche leitfähig sein.
Im Vergleich zu metallografischen Mikroskopen verfügen Rasterelektronenmikroskope über einen weiten einstellbaren Vergrößerungsbereich, eine hohe Bildauflösung, eine große Tiefenschärfe, detailreiche dreidimensionale Bilder und können umfassendere Probeninformationen liefern. Ihre Anwendungsgebiete sind umfangreicher und vielfältiger als bei metallografischen Mikroskopen.
