Multimeter: Einführung in verschiedene Techniken zum Messen verschiedener Objekte
1. Testen von Lautsprechern, Kopfhörern und dynamischen Mikrofonen: Verwenden Sie den R×1Ω-Bereich. Schließen Sie eine Sonde an einen Anschluss an und tippen Sie mit der anderen Sonde an den gegenüberliegenden Anschluss. Eine normale Komponente sollte ein klares und lautes „Klick“-Geräusch erzeugen. Wenn kein Ton zu hören ist, ist die Spule kaputt. Ein schwacher und hoher Ton weist auf ein Problem mit der Spulenreibung hin, wodurch die Komponente unbrauchbar wird.
2. Kondensatoren testen: Nutzen Sie den Widerstandsbereich und wählen Sie eine geeignete Skala basierend auf der Kapazität des Kondensators aus. Beachten Sie, dass Sie bei Elektrolytkondensatoren während der Messung die schwarze Sonde an den Pluspol anschließen.
① Schätzung der Kapazität von Kondensatoren auf Mikrowellenniveau-: Verlassen Sie sich auf Erfahrung oder vergleichen Sie mit einem Standardkondensator mit der gleichen Kapazität. Beurteilen Sie die Kapazität anhand der maximalen Schwingungsamplitude der Multimeternadel. Der Referenzkondensator muss nicht die gleiche Nennspannung, sondern nur die gleiche Kapazität haben. Um beispielsweise einen 100μF/250V-Kondensator abzuschätzen, verwenden Sie einen 100μF/25V-Kondensator als Referenz. Stimmen ihre Nadelausschläge überein, gelten ihre Kapazitäten als identisch.
② Schätzung der Kapazität von Picofarad--Kondensatoren: Verwenden Sie den R×10kΩ-Bereich, der nur Kondensatoren über 1000 pF messen kann. Bei einem 1000pF- oder etwas größeren Kondensator zeigt eine leichte Nadelbewegung eine ausreichende Kapazität an.
③ Testen des Kondensatorleckstroms: Laden Sie Kondensatoren über 1000 μF schnell auf, indem Sie den R×10Ω-Bereich verwenden, um zunächst die Kapazität abzuschätzen. Wechseln Sie dann in den R×1kΩ-Bereich. Die Nadel sollte bei oder sehr nahe bei ∞ bleiben; andernfalls liegt eine Leckage vor. Bei Takt- oder Oszillationskondensatoren (z. B. Oszillationskondensatoren in Schaltnetzteilen für Farbfernseher), die einen hohen Leckwiderstand erfordern, schalten Sie nach dem Laden mit R×1kΩ auf den R×10kΩ-Bereich um. Die Nadel sollte bei ∞ bleiben, ohne zurückzukehren.
3. Testen von Dioden, Transistoren und Zener-Dioden in Schaltkreisen: In praktischen Schaltkreisen sind die Vorspannungswiderstände von Transistoren oder die umgebenden Widerstände von Dioden und Zener-Dioden im Allgemeinen groß (Hunderte bis Tausende von Ohm). Verwenden Sie daher den Bereich R×10Ω oder R×1Ω, um den PN-Übergang im --Schaltkreis zu messen. Ein guter PN-Übergang sollte unterschiedliche Vorwärts- und Rückwärtseigenschaften aufweisen. Normalerweise sollte der Durchlasswiderstand im R×10Ω-Bereich etwa 200 Ω und im R×1Ω-Bereich etwa 30 Ω betragen (Werte können je nach Multimetermodell leicht variieren). Ein zu hoher Durchlasswiderstand oder ein niedriger Rückwärtswiderstand weisen auf einen fehlerhaften PN-Übergang und eine defekte Komponente hin. Diese Methode identifiziert fehlerhafte Komponenten bei Reparaturen effizient und erkennt sogar teilweise beschädigte Komponenten mit verschlechterten Eigenschaften. Wenn beispielsweise ein PN-Übergang einen hohen Durchlasswiderstand in einem niedrigen --Widerstandsbereich aufweist, aber den normalen Aus---Stromkreis mit dem R×1kΩ-Bereich testet, haben sich seine Eigenschaften verschlechtert, was ihn unzuverlässig macht.
