Mikroskopische optische Fehleranalyse
Mikroskopische Doppelbilder stimmen nicht überein. Bei der Beobachtung binokularer Okulare kommt es manchmal zu einer doppelten Fehlausrichtung des Bildes. Das Auftreten einer doppelten Bildfehlausrichtung hat nichts mit der inkonsistenten Kompensation der Länge der beiden Objektivhülsen zu tun. Die Vergrößerung der beiden Okulare ist sehr unterschiedlich und die Vibrationen während des Gebrauchs oder Transports führen zu Schäden am Fernglas. Die Position des Prismas wird aus drei Gründen verschoben. Aus den ersten beiden Gründen wurden sie beim Verlassen des Werks kalibriert und angepasst und können gelöst werden, solange Sie während des Gebrauchs auf die Methode und die Anpassung achten.
Der dritte Grund für das Mikroskop ist häufiger. Zu diesem Zeitpunkt sollte die Fernglasschale geöffnet, ein Kreuzlineal auf der Plattform platziert und 10-fach-Fadenkreuzokulare zur Beobachtung in den linken und rechten Objektivtubus eingesetzt und die Position und der Winkel des Fernglasprismas korrigiert werden . , und wenn die binokularen Okulare gedreht werden, um in verschiedenen Winkeln zu beobachten, befinden sich die Positionen der Kreuzmarkierungen an der gleichen Position des Sichtfelds des linken und rechten Okulars und ziehen Sie sie dann fest.
Bei der binokularen Mikroskopbeobachtung kommt es manchmal zu Unstimmigkeiten in der Helligkeit und Farbe des linken und rechten Sichtfelds, die sich auf die Beobachtung auswirken. Dies wird durch die Beschädigung der Teilerfolie des Strahlteilerprismas verursacht. Zu diesem Zeitpunkt sollte das Strahlteilungsprisma entfernt und vor dem Zusammenbau und der Verwendung zur Neubeschichtung an den Mikroskophersteller geschickt werden. .
Der Unterschied zwischen der Anwendung eines aufrechten metallografischen Mikroskops und eines inversen metallografischen Mikroskops
Invertiertes metallurgisches Mikroskop: Da die Beobachtungsoberfläche der Probe nach unten mit der Oberfläche der Werkbank zusammenfällt, befindet sich das Beobachtungsobjektiv unter der Werkbank und wird nach oben beobachtet. Diese Beobachtungsform ist nicht durch die Höhe der Probe begrenzt, solange eine vorhanden ist Die Beobachtungsoberfläche ist bei der Vorbereitung der Probe flach. Daher wird sie häufig in Fabriklaboren, wissenschaftlichen Forschungseinrichtungen und Hochschulen verwendet. Die Basis des inversen metallographischen Mikroskops verfügt über eine große Auflagefläche, einen niedrigen Schwerpunkt, einen stabilen und zuverlässigen Betrieb, und das Okular und die Auflagefläche sind um 45 Grad geneigt, was die Beobachtung bequem macht.
Das aufrechte metallografische Mikroskop hat die gleichen Grundfunktionen wie das inverse metallografische Mikroskop, mit Ausnahme der Analyse und Identifizierung von Metallproben mit einer Höhe von 20-30mm. Da es den täglichen Gewohnheiten der Menschen entspricht, wird es häufiger in transparenter Form verwendet , durchscheinende oder undurchsichtige Substanz. Das aufrechte metallurgische Mikroskop erzeugt während der Beobachtung ein positives Bild, was dem Benutzer große Bequemlichkeit bei der Beobachtung und Identifizierung bietet. Zusätzlich zur Analyse und Identifizierung von Metallproben mit einer Höhe von 20-30mm, Beobachtungszielen mit einer Größe von mehr als 3 Mikrometern und weniger als 20 Mikrometern, wie z. B. Cermets, elektronischen Chips, gedruckten Schaltkreisen, LCD-Substraten, Filmen, Fasern, Körnige Gegenstände, Beschichtungen und andere Materialien auf der Oberfläche. Die Struktur und Spuren können eine gute bildgebende Wirkung haben.
