Einführung in die Anwendung von Infrarotmikroskopen in winzigen Geräten in der Elektronikindustrie
Mit der Entwicklung der Nanotechnologie wird der Top-Down-Miniaturisierungsansatz im Bereich der Halbleitertechnologie zunehmend angewendet. Früher haben wir die IC -Technologie "microelectronics" aufgerufen, da die Größe der Transistoren im Bereich des Mikrometers (10-6} Meter) liegt. Aber die Halbleitertechnologie entwickelt sich sehr schnell und steigt alle zwei Jahre um eine Generation, und die Größe wird auf die Hälfte seiner ursprünglichen Größe, die das berühmte Moores Gesetz ist, schrumpfen. Vor ungefähr 15 Jahren begannen Halbleiter in die Sub -Mikron -Ära, die kleiner als die Mikrometer ist, gefolgt von einer tieferen Sub -Mikron -Ära, die viel kleiner als Mikrometer ist. Durch 2 0 01 hatte die Größe der Transistoren sogar auf weniger als 0,1 Mikrometer abgenommen, was weniger als 100 Nanometer entspricht. Daher werden im Zeitalter der Nanoelektronik die meisten zukünftigen ICs mithilfe der Nanotechnologie hergestellt.
3, technische Anforderungen:
Derzeit ist die Hauptform des elektronischen Gerätefehlers thermischer Fehler. Laut Statistiken werden 55% der Ausfälle für elektronische Geräte durch die Temperatur verursacht, die den angegebenen Wert überschreitet, und die Ausfallrate der elektronischen Geräte nimmt mit zunehmender Temperatur exponentiell zu. Im Allgemeinen ist die operative Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten sehr empfindlich gegenüber Temperaturen, wobei die Zuverlässigkeit der Zuverlässigkeit für jeden 1 -Grad -Anstieg der Gerätetemperatur zwischen 70-80 Grad Celsius erhöht wird. Daher ist es notwendig, die Temperatur des Geräts schnell und zuverlässig zu erkennen. Aufgrund der zunehmend geringeren Größe der Halbleitergeräte wurden höhere Anforderungen an die Temperaturauflösung und die räumliche Auflösung von Erkennungsausrüstungen aufgeführt.
