Einführung in die Mikroskop -Terminologie für den metallographischen Analysator
Numerische Blende
Die numerische Apertur ist der Haupt -technische Parameter der objektiven Linse und des Kondensatorobjektivs eines metallographischen Mikroskops. Die als NA abgekürzte numerische Apertur ist ein wichtiger Indikator für die Beurteilung der Leistung beider, insbesondere für die objektive Linse. Die Größe seines Werts ist auf dem Gehäuse der objektiven Linse bzw. der Kondensatorlinse gekennzeichnet.
Die numerische Apertur (NA) ist das Produkt des Brechungsindex (n) des Mediums zwischen der vorderen Linse der objektiven Linse und dem zu inspizierten Objekt und der Hälfte des Sinus des Aperturwinkels (U). Die Formel lautet wie folgt: na {= nsinu/2
Auflösung
Die Auflösung eines metallographischen Mikroskops bezieht sich auf den geringen Abstand zwischen zwei Objekten, die durch das Mikroskop, das auch als Diskriminierungsrate bezeichnet wird, deutlich unterschieden werden. Die Berechnungsformel ist σ=λ/na
In der Formel ist σ * kleine Auflösung; λ ist die Wellenlänge des Lichts; Na ist die numerische Blende der objektiven Linse. Die Auflösung der objektiven Linse wird durch zwei Faktoren bestimmt: den Na -Wert der objektiven Linse und die Wellenlänge der Beleuchtungslichtquelle. Je größer der Na -Wert und desto kürzer die Wellenlänge des Beleuchtungslichts, desto kleiner ist der σ -Wert und desto höher die Auflösung.
Vergrößerung und effektive Vergrößerung
Aufgrund der beiden Vergrößerungen der objektiven Linse und des Okulares sollte die Gesamtvergrößerung des Mikroskops das Produkt der objektiven Vergrößerung und der Augenweide Gamma 1: γ {{1} γ1 sein
Offensichtlich kann ein Mikroskop im Vergleich zu einem Lupenglas eine viel höhere Vergrößerung aufweisen, und durch die Tausch der objektiven und die Augenhautlinsen mit unterschiedlichen Vergrößerungen ist es einfach, die Vergrößerung des Mikroskops zu ändern.
Fokusstiefe
Fokusstiefe, auch als Brennweite bezeichnet, bezieht sich auf die Fähigkeit, nicht nur alle Punkte auf der Ebene eines Mikroskops zu sehen, wenn sich der Fokus auf einem Objekt befindet, sondern auch innerhalb einer bestimmten Dicke über und unter dieser Ebene. Die Dicke dieses klaren Teils wird als Fokusstiefe bezeichnet. Dies ist besonders wichtig in Video -Mikroskopen.
Sichtdurchmesser
Bei der Beobachtung eines Mikroskops wird der hell kreisförmige Bereich als Sichtfeld bezeichnet und seine Größe wird durch das Sichtfeld der Sichtöffnung im Okular bestimmt.
Felddurchmesser, auch als Feldbreite bekannt, bezieht sich auf den tatsächlichen Bereich der Objekte, die in einem kreisförmigen Sichtfeld untergebracht werden können, das unter einem Mikroskop zu sehen ist. Je größer das Sichtdurchmesser ist, desto leichter ist es zu beobachten.
Schlechte Deckung
Das optische System eines Mikroskops enthält auch ein Abdeckglas. Aufgrund der nicht standardmäßigen Dicke des Abdeckglass, des Brechungsweges des Lichts, der in die Luft in die Luft in die Abdeckglas eindringt, führt zu einer Phasenunterschiede, die als Deckungsunterschied bezeichnet wird. Die schlechte Abdeckung beeinflusst die Qualität des vom metallographischen Mikroskop erzeugten Klangs.
Arbeitsabstand
Arbeitsabstand, auch als Objektabstand bezeichnet, bezieht sich auf den Abstand zwischen der Oberfläche der Linse vor der Objektivlinse und dem zu untersuchenden Objekt. Während der Spiegelinspektion sollte das zu untersuchende Objekt zwischen ein bis zum Zweifachen der Brennweite der objektiven Linse liegen. Daher sind es und die Brennweite zwei verschiedene Konzepte, und was allgemein als Fokussierung bezeichnet wird, ist tatsächlich die Anpassung des Arbeitsabstands eines metallographischen Mikroskops.
