Einführung in die Polarisationsmikroskope von Leica
Wir haben den begrenzten Platz auf dem Schreibtisch im Klassenzimmer berücksichtigt und das Mikroskop auf die entsprechenden Abmessungen beschränkt. Außerdem haben wir die Leica-Mikroskope mit Griffen und Naben für den einfachen Transport ausgestattet. Unser strukturelles Design wurde in externen Labors getestet und entspricht allen internationalen Sicherheitsstandards.
Großformatige Schülermikroskope müssen für die Schüler leicht handhabbar sein. In der Praxis bedeutet das, dass solche Mikroskope keine beweglichen Teile haben dürfen, die verloren gehen können, dass die Komponenten so beschriftet sein müssen, dass die Schüler die entsprechenden Komponenten leicht finden können und dass Beobachtungen mit nur geringen Justierungen möglich sein müssen.
Am wichtigsten ist die optische Leistung, einschließlich der Kamera. Wenn die Optik gut ist, weist das Bild einen hervorragenden Kontrast, eine hervorragende Farbe und Auflösung auf, wodurch sichergestellt wird, dass das Bild genau wiedergegeben wird. Die optische Leistung kann dazu führen, dass Schüler in eine andere Welt blicken, und nur wenn diese Welt klar und deutlich ist, ist das Interesse der Schüler geweckt.
Das Beleuchtungssystem mit LED-Lichtquelle zeichnet sich durch einen geringen Energieverbrauch und eine lange Lebensdauer aus; es reduziert die durch die kurze Lebensdauer herkömmlicher Halogenlichtquellen verursachten Störungen erheblich.
Bei diesem echten drahtlosen interaktiven System ist für den Betrieb des gesamten Systems keine Verkabelung erforderlich.
Welche Klassifizierungen gibt es für industrielle Inspektionsmikroskope?
Das erste ist das Videomikroskop. Es hat kein Okular und kann direkt über den Monitor beobachtet werden. Die Beobachtung führt nicht so schnell zu Ermüdungserscheinungen. Das Videomikroskop verfügt über ein integriertes Gehäuse und hat die Vorteile, dass es leicht zu bewegen und zu bedienen ist und ein weites Sichtfeld hat. Es wird häufig in den Bereichen elektronische Geräte, Kunststoffteile, integrierte Schaltkreise, chemische Materialien, Glaskeramik usw. verwendet.
Als nächstes kommt das Werkzeugmikroskop, mit dem Größe, Winkel und andere Parameter des Werkstücks innerhalb des Bereichs gemessen werden können. Es handelt sich um ein multifunktionales Gerät, das häufig in Anwendungen wie der Leiterplattenprüfung, der Hardwareprüfung, der Messprüfung usw. eingesetzt wird.
Darüber hinaus gibt es ein DIC-Mikroskop mit Differentialinterferenz, mit professionellem achromatischem Flachfeldobjektiv mit großem Arbeitsabstand, das DIC-Technologie verwendet, mit gezieltem Design der koaxialen Lichtquelle, Interferenzfarbgleichmäßigkeit, Bildklarheit und hohem Kontrast im gesamten Sichtfeld. Der winzige Höhenunterschied auf der Oberfläche des zu messenden Objekts erzeugt einen deutlichen Reliefeffekt, der die eindeutige Identifizierung von Rissen, Unebenheiten, Partikeln und Löchern ermöglicht.
