Einführung in die Funktionen von Hochleistungsmikroskopen
Es eignet sich zur Beobachtung, Erforschung und Analyse winziger Ziele innerhalb eines bestimmten Bereichs auf der Oberfläche großer Objekte. Das Instrument ist mit einem mechanischen Tisch mit großem Bewegungsbereich, einem Epi-Illuminator, einem achromatischen Fernobjektiv und einem Weitwinkelokular ausgestattet. Das Bild ist klar und der Kontrast ist gut. Es ist außerdem mit einem eingebauten polarisierenden Beobachtungsgerät ausgestattet.
Einführung
Es eignet sich zur Beobachtung, Erforschung und Analyse winziger Ziele innerhalb eines bestimmten Bereichs auf der Oberfläche großer Objekte. Das Instrument ist mit einem mechanischen Tisch mit großem Bewegungsbereich, einem Epi-Illuminator, einem achromatischen Fernobjektiv und einem Weitwinkelokular ausgestattet. Das Bild ist klar und der Kontrast ist gut. Es ist außerdem mit einem eingebauten polarisierenden Beobachtungsgerät ausgestattet.
Merkmale
1. Ausgestattet mit Weitfeldokularen und Plan-Achromat-Objektiven für große Entfernungen ist das Sichtfeld groß und klar.
2. Ausgestattet mit einer Bühne mit großem Bewegungsbereich kann es sich schnell und langsam bewegen.
3. Koaxialer Fokussiermechanismus für Grob- und Feinbewegung, Grobbewegung ist einstellbar, mit Begrenzungsverriegelung, Feinbewegungsskalenwert: 2 μm.
4. 6V20W Halogenlampe mit einstellbarer Helligkeit.
5. Der trinokulare Linsentubus kann für die normale Beobachtung frei umgeschaltet werden und ermöglicht mit einem einzigartigen Anti-Schimmel-System eine 100-prozentige lichtdurchlässige Fotografie.
Operationsmethode
1. Nehmen Sie den Spiegel und installieren Sie ihn
1. Halten Sie den Spiegelarm mit der rechten Hand und ziehen Sie die Spiegelbasis mit der linken Hand.
2. Platzieren Sie das Mikroskop etwa 7 cm von der Kante des Experimentiertisches entfernt, leicht nach links, und montieren Sie Okular und Objektiv.
2. Gegen das Licht
1. Drehen Sie den Konverter, um das Objektiv mit geringer Vergrößerung auf das Lichtloch auszurichten (der Abstand zwischen dem vorderen Ende des Objektivs und dem Tisch sollte 5 bis 10 mm betragen).
2. Richten Sie eine größere Blende auf das Lichtloch aus, blicken Sie mit einem Auge auf das Okular, öffnen Sie das andere Auge, drehen Sie den Reflektor, sodass das Licht durch das Lichtloch in den Objektivtubus reflektiert wird. Sie können das weiße Licht durch das kreisförmige Sichtfeld des Okulars sehen.
3. Beobachtung
1. Legen Sie die zu beobachtende Objektträgerprobe auf den Tisch und drücken Sie sie mit einer Druckklemme fest. Die Probe sollte zur Mitte des Lichtlochs zeigen.
2. Drehen Sie die grobe Quasi-Fokusschraube, um den Objektivtubus langsam abzusenken, bis sich die Objektivlinse nahe an der Objektträgerprobe befindet (die Augen müssen zu diesem Zeitpunkt auf die Objektivlinse blicken, und die Augen des Experimentators sollten zwischen der Objektivlinse und dem Objektträger blicken Probe, um eine Kollision zwischen der Objektivlinse und der Probe zu vermeiden).
3. Schauen Sie mit einem Auge in das Okular und drehen Sie gleichzeitig die Grobfokussierungsschraube gegen den Uhrzeigersinn, um den Objektivtubus langsam anzuheben, bis das Objekt deutlich zu sehen ist. Drehen Sie dann die Feinfokusschraube leicht, um das Objektbild klarer zu machen.
4. Wischen Sie das Objektiv ab und schließen Sie es
Wischen Sie das Okular bei Bedarf mit dem Linsentuch in der Nähe ab und setzen Sie es wieder ein.
Hochleistungsmikroskope können zur Identifizierung und Analyse der Organisationsstruktur verschiedener Metalle, Legierungsmaterialien und nichtmetallischer Substanzen verwendet werden und werden häufig in der Elektronik-, Chemie- und Instrumentenindustrie zur Beobachtung undurchsichtiger Substanzen eingesetzt. Wie Metallmaterialien, Sonnenkollektoren, integrierte Schaltkreise, elektronische Chips, Leiterplatten, große Flüssigkristallplatten und andere nichtmetallische Materialien, Forschung und Analyse einiger Oberflächenbedingungen usw. Dieses Instrument ist ein ideales Instrument für Hochschulen und Universitäten, Präzision Ingenieurwesen, wissenschaftliche Forschungseinrichtungen, Fabriken usw.
