Fokussierungs- und Ausrichtungsverfahren für ein Werkzeugmikroskop

Jun 17, 2023

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Fokussierungs- und Ausrichtungsverfahren für ein Werkzeugmikroskop

 

Bei Verwendung eines Werkzeugmikroskops, genauer Fokussierung und Ausrichtung liegt der Fehler der Messergebnisse desselben Prüfobjekts im Allgemeinen im Bereich von 1-2 Mikrometern, sodass nur eine korrekte Fokussierung und Ausrichtung die Genauigkeit der Messergebnisse gewährleisten kann . Die richtige Methode zur Fokussierung und Ausrichtung (Crimpen) wird wie folgt vorgestellt:


1. Fokussierungsmethode
1. Stellen Sie zuerst die Dioptrie des Okulars ein, d. h. stellen Sie zuerst die Dioptrie des Okulars ein, um ein klares Fadenkreuzbild im Sichtfeld des Okulars zu beobachten. Wenn der Vermesser kein klares Strichplattenbild im Sichtfeld des Okulars erhalten kann, sollte die Dioptrie des Okulars so eingestellt werden, dass die Dioptrie an die Sehschärfe des Vermessers angepasst wird, sodass eine klare meterförmige Linie erhalten werden kann.


2. Bewegen Sie das zentrale Mikroskop durch das Fokussierungshandrad, um ein klares Bild des Objektumrisses im Sichtfeld des Okulars zu erhalten, und bewegen Sie dann die vertikalen und horizontalen Arbeitstische zur Ausrichtung. Wenn die Augen des Messers das Okular nach oben und unten, nach links und rechts schütteln und es keine relative Bewegung zwischen dem Objektbild und der kreuzförmigen Linie im Sichtfeld gibt, bedeutet dies, dass das gemessene Teil auf dem Kreuz korrekt abgebildet wird. geformten Linienabsehen, und die Messung kann zu diesem Zeitpunkt durchgeführt werden. Wenn es zu einer relativen Bewegung zwischen dem Objektbild und der kreuzförmigen Linie kommt, bedeutet dies, dass das Mikroskop nicht gut fokussiert ist und eine weitere sorgfältige Fokussierung erforderlich ist, um das Objektbild und das Kreuzlinien-Fadenkreuz auf die gleiche Ebene zu bringen.


2. Ausrichtungsmethode (Crimpmethode).
Die Ausrichtung (Drucklinie) besteht darin, den Rand des Bildumrisses des gemessenen Stücks mit der kreuzförmigen Linie zu überlappen, das heißt, das sogenannte Zielen. Für ein bestimmtes Werkzeugmikroskop ist die Genauigkeit des Instruments sicher und die Messgenauigkeit muss verglichen werden. Hoch und zuverlässig, hängt weitgehend von der richtigen Ausrichtungsmethode ab. Es gibt zwei Ausrichtungsmethoden, eine ist die Lückenausrichtungsmethode und die andere ist die überlappende Ausrichtungsmethode.


1. Spaltausrichtungsmethode: Die Spaltausrichtungsmethode eignet sich zur Winkelmessung. Wenn beim Messen des Winkels eine gepunktete Linie der Reiswortleitung nahe einer Seite des gemessenen Winkels im Sichtfeld platziert wird, bleibt ein schmaler Spalt zwischen der gepunkteten Linie der Reiswortleitung und dem Rand des gemessenen Winkels bestehen Winkel, und das Messgerät verwendet diese Lücke. Die Gleichmäßigkeit der Größe wird verwendet, um den Grad der Ausrichtung zwischen der gepunkteten Linie der Reislinie und dem Rand des zu prüfenden Bildes zu beurteilen. Wenn nicht die oben genannte Ausrichtungsmethode, sondern die Methode der direkten Überlappung mit dem Bildrand verwendet wird, erschwert dies nicht nur die Ausrichtung für den Vermesser, sondern erhöht auch den Messfehler. Zu diesem Zeitpunkt ist das Bild des Umrisses des getesteten Teils im Sichtfeld keine dünne Linie, sondern ein heller und dunkler Umriss, und die eingravierte Linie der Messlinie hat eine bestimmte Breite. Wenn sie sich überlappen und gemessen werden, tritt zwangsläufig ein großer Ausrichtungsfehler auf, insbesondere wenn die Seite des gemessenen Winkels relativ kurz ist. Diese Situation ist noch schwerwiegender. Daher sollte bei der Winkelmessung die Spaltausrichtungsmethode verwendet werden.


2. Überlappungsausrichtungsmethode: Wenn bei der Längenmessung weiterhin die oben genannte Lückenausrichtungsmethode verwendet wird, erhöht sich der Längenmessfehler. Der Grund dafür ist, dass die Lücke nicht gemessen werden kann, sondern im Wert der gemessenen Länge enthalten ist. Daher wird bei der Längenmessung die überlappende Ausrichtungsmethode verwendet. Dabei soll die gepunktete Linie der Reiszeichenlinie mit dem Rand des Umrissbilds überlappt werden, sodass sich die Hälfte der gepunkteten Linie innerhalb des Umrissbilds und die andere Hälfte außerhalb des Bilds befindet. Beim Ausrichten der Linie sollte die Mitte der gepunkteten Linie der Meterlinie als Standard verwendet werden, und der verlängerte Teil kann als Referenz verwendet werden, um genaue Messergebnisse zu erhalten.

 

1 digital microscope -

 

 

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