Unterschiede in der Anwendung orthogonaler und inverser metallurgischer Mikroskope
Der Unterschied zwischen vorwärts und invertiert besteht einfach darin, dass die vorwärts gerichtete Probe unten und die invertierte Probe oben platziert ist. Die Objektivlinse ist in der vorwärts gerichteten Position nach unten und in der invertierten Position nach oben platziert.
Beim umgekehrten metallografischen Mikroskop liegt die Beobachtungsfläche der Probe mit der Tischoberfläche überlappend, das Beobachtungsobjektiv befindet sich unter dem Tisch, die Beobachtung erfolgt nach oben. Diese Art der Beobachtung unterliegt nicht den Beschränkungen der Probenhöhe. Solange die Probe vorbereitet wird und die Beobachtungsfläche flach ist, ist sie in Fabriklabors, wissenschaftlichen Forschungseinrichtungen und Hochschulen die gängige Wahl. Die Basisauflagefläche des umgekehrten metallografischen Mikroskops ist größer, der Schwerpunkt niedriger, stabil und zuverlässig, die Okulare und die Auflagefläche sind um 45 Grad geneigt, was die Beobachtung erleichtert.
Das orthogonale metallografische Mikroskop hat dieselben Grundfunktionen wie das invertierte metallografische Mikroskop, zusätzlich zur Analyse und Identifizierung von Metallproben mit einer Höhe von 20-30 mm, da es den täglichen Gewohnheiten der Menschen entspricht und daher häufiger bei transparenten, halbtransparenten oder undurchsichtigen Substanzen verwendet wird. Das orthogonale metallografische Mikroskop erzeugt beim Beobachten ein positives Bild, was dem Benutzer die Beobachtung und Identifizierung sehr erleichtert. Neben der Analyse und Identifizierung von Metallproben mit einer Höhe von 20-30 mm können damit auch Ziele größer als 3 Mikrometer und kleiner als 20 Mikrometer beobachtet werden, wie z. B. die Struktur und Spuren auf der Oberfläche von Metallkeramiken, elektronischen Chips, gedruckten Schaltungen, LCD-Substraten, dünnen Filmen, Fasern, körnigen Objekten, Beschichtungen und anderen Materialien, und zwar mit hervorragenden Bildergebnissen.
