Rasterkraftmikroskopie gekoppelt mit invertierter optischer Mikroskoptechnik
Die FlexAFM-Kopplungstechnologie für inverse optische Mikroskope steht allen Kunden zur Verfügung, die an der Möglichkeit interessiert sind, optische Mikroskopie und Rasterkraftmikroskopie zu kombinieren. Das System besteht aus einem universellen FlexAFM-Probentisch für inverse optische Mikroskope, einem mikroskopspezifischen Probenadapter für verschiedene Mikroskope (z. B. Zeiss oder Olympus) und einer FlexAFM-Beleuchtungskorrekturoptik.
Die Hauptmerkmale der Rasterkraftmikroskopie in Verbindung mit der invertierten optischen Mikroskopie sind:
- Anschlussadapter für Mikroskope der Serien Zeiss Axiovert/AxioObserver, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti und Leica DMI. Andere Modelle inverser optischer Mikroskope können modellspezifisch angepasst werden.
-Intuitive Bedienung aufgrund der gleichen Ausrichtung des optischen Sichtfelds des AFI und des invertierten optischen Mikroskops.
-Die Ausrichtung des Auslegerarms im optischen Sichtfeld wird durch die unabhängige Bewegung des AFM-Scankopfes in X- und Y-Richtung erreicht, wobei die AFM-Scanachse und die optische Bildachse einen parallelen Abstand von 1 mm aufweisen.
-Durch die Alignment-Chip-Technologie ist nach dem Auswechseln des Auslegerarms keine erneute Ausrichtung des Auslegerarms im optischen Bild mehr erforderlich.
- Die Probenpositionierung verfügt über einen Bewegungsbereich von 12 mm in X- und Y-Richtung.
- Probenhalter können an Mikroskopträgerfolien und Petrischalen adaptiert werden.
-Möglichkeit zur Verwendung von Linsen mit hoher numerischer Apertur in Kombination mit Petrischalen mit Deckglasboden.
Einheit für invertiertes optisches Mikroskop: Das easyScan 2FlexAFM AFM ist in ein invertiertes optisches Mikroskop von Zeiss integriert und ruht auf einem Accurion-Tisch mit aktiver Vibrationsdämpfung.
