Eine kurze Analyse der Prinzipien und Anwendungen von DIC in metallografischen Mikroskopen
Bei jeder metallografischen Mikroskopbeobachtung gibt es eine Beobachtungsmethode, die als Differentialinterferenzkontrastmethode oder DIC-Beobachtungsmethode bezeichnet wird. Dies ist eine relativ fortschrittliche Methode, die derzeit nur in Geräten ausländischer Marken verwendet wird. Das spezifische Prinzip lautet wie folgt: Stellen Sie es vor.
Für ein metallografisches Mikroskop erforderliche Komponenten: Polarisator, Analysator, Differential-Interferenz-DIC-Chip (aus Gletschergestein).
Polarisatoren und Analysatoren sind unverzichtbare Grundkomponenten bei der orthogonalen Polarisationslichtbeobachtung metallografischer Proben. Sie werden in die Hell-/Dunkelfeldbeleuchtungsanordnung eingebaut und sind auch unverzichtbare Komponenten für die Methode des Differenzialinterferenzkontrasts. Der Polarisator eines metallografischen Mikroskops wandelt die Lichtquelle in linear polarisiertes Licht um, das in Ost-West-Richtung schwingt; der Analysator kann mit kohärentem Licht interferieren, das die Interferenzbedingungen erfüllt.
Die Differentialinterferenz-DIC-Platte eines metallografischen Mikroskops ist die Kernkomponente der Differentialinterferenzkontrastmethode. Ihre Dicke ändert sich geringfügig, was zu geringfügigen Änderungen des optischen Pfads oder des optischen Pfadunterschieds führt und einen offensichtlichen Interferenzkontrasteffekt erzeugt.
Anwendungen von Differentialinterferenz-DIC-Folien in metallografischen Mikroskopen:
Beobachten Sie die Partikel, Risse, Löcher und Beulen auf der Oberfläche des Objekts, die als Relief erscheinen, und Sie können richtige Urteile fällen.
Bei manchen Werkstücken sind die Oberflächenanforderungen reduziert. Solange beim Polieren keine Korrosion erforderlich ist, ist das Phasenumwandlungsrelief von Martensit sichtbar.
Beobachten Sie einige Veränderungen der Oberflächenpartikel, wie z. B. die Beobachtung leitfähiger Ionen usw.
Durch die obige Erklärung glaube ich, dass jeder ein gewisses Verständnis des Prinzips und der Anwendung von DIC-Blättern mit unterschiedlicher Interferenz in metallografischen Mikroskopen hat.
